高純度 CAN 溶液 鈰銨鉻掩模蝕刻

山東德盛新材料有限公司 2026-03-04 14:05:54

高純度 CAN 溶液 鈰銨鉻掩模蝕刻
高純度 CAN 溶液 鈰銨鉻掩模蝕刻
高純度 CAN 溶液 鈰銨鉻掩模蝕刻
化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)
納米 CeO?磨料前驅(qū)體:高純度 CAN(≥5N)經(jīng)熱解 / 水熱法制備單分散 CeO?納米磨料,用于晶圓、SiC/GaN 襯底、銅互連的全局平坦化。
性能優(yōu)勢(shì):莫氏硬度 6.5,實(shí)現(xiàn)原子級(jí)平整度(Ra≤0.1nm);SiC 去除速率達(dá) 1500–2000 ?/min(較 SiO?提升 3 倍),缺陷密度降低 70%。
先進(jìn)制程應(yīng)用:臺(tái)積電 5nm 工藝中,CAN 基拋光液將晶圓全局平整度(GBIR)控制在50nm 以內(nèi)。
2. 光掩模與晶圓蝕刻
鉻掩模蝕刻:高純度 CAN 溶液(≥99.9%)是鉻層專用蝕刻液,選擇性高、速率可控(50–200 nm/min)、不損傷光刻膠,用于芯片與面板掩模制造。
金屬層精細(xì)蝕刻:酸性條件下精準(zhǔn)蝕刻Cr、Ti、NiCr等,線寬精度 ±0.1μm,用于集成電路金屬線路圖案化。
晶圓清洗:強(qiáng)氧化性高效去除表面有機(jī) / 金屬雜質(zhì),清洗效率99.9%,保障后續(xù)制程穩(wěn)定性。
3. 絕緣 / 功能薄膜制備
高 k 柵極絕緣層:以 CAN 為鈰源,通過 CVD/ALD 制備CeO?基高介電常數(shù)(k=25–30)絕緣膜,絕緣電阻 > 1012Ω,熱穩(wěn)定性優(yōu)異,用于先進(jìn)邏輯芯片與 TFT 器件。
抗反射 / 鈍化膜:溶膠 - 凝膠法制備 CeO?薄膜,用于硅片表面減反與鈍化,提升器件光電性能與可靠性。

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