漏電流 開(kāi)短路測(cè)試 電氣特性測(cè)試數(shù)字源表

數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負(fù)載，支持四象限功能，可提供恒流測(cè)壓及恒壓測(cè)流功能,可簡(jiǎn)化芯片電性能測(cè)試方案。

在生產(chǎn)和老化測(cè)試時(shí)，往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對(duì)多個(gè)DUT的測(cè)試，或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測(cè)試任務(wù)?；谄召愃笴S系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測(cè)試平臺(tái)，可進(jìn)行多路供電及電參數(shù)的并行測(cè)試，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)，最高可擴(kuò)展至40通道。

使用普賽斯數(shù)字源表進(jìn)行芯片的開(kāi)短路測(cè)試(Open/Short Test)、漏電流測(cè)試（LeakageTest）以及DC參數(shù)測(cè)試（DC ParametersTest）。

開(kāi)短路測(cè)試（Open-Short Test，也稱(chēng)連續(xù)性或接觸測(cè)試），用于驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性，測(cè)試的過(guò)程是借用對(duì)地保護(hù)二極管進(jìn)行的，測(cè)試連接電路如下所示：

漏電流測(cè)試，又稱(chēng)為L(zhǎng)eakage Test，漏電流測(cè)試的目的主要是檢驗(yàn)輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高，測(cè)試連接電路如下所示：

DC參數(shù)的測(cè)試，一般都是Force電流測(cè)試電壓或者Force電壓測(cè)試電流，主要是測(cè)試阻抗性。一般各種DC參數(shù)都會(huì)在Datasheet里面標(biāo)明，測(cè)試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范：