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PMST-3500V大功率激光器LIV測(cè)試及老化系統(tǒng)
普賽斯PMST-3500V大功率激光器LIV測(cè)試及老化系統(tǒng)是專(zhuān)為解決千瓦級(jí)大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測(cè)試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問(wèn)題而創(chuàng)新開(kāi)發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測(cè)試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、面議2026-02-25 -
數(shù)字源表如何選型
目前市場(chǎng)上數(shù)字源表琳瑯滿(mǎn)目，如何選擇適合自己、或性?xún)r(jià)比高的源表成為眾多買(mǎi)家比較頭疼的問(wèn)題，其實(shí)只要了解到以下參數(shù)，就不難選型了： 1、源的輸出范圍 2、通道數(shù) 3、是否支持脈沖輸出 4、測(cè)量的精度 5、測(cè)量的速度（采樣率）等 確定了以上參數(shù)后，就面議2026-02-25 -
數(shù)字源表測(cè)試柔性電子材料
柔性電子又稱(chēng)為塑料電子、印刷電子、有機(jī)電子、聚合體電子等，將有機(jī)或者無(wú)機(jī)材料電子器件制作在柔性、可延性塑料或薄金屬基板上的新興電子技術(shù)。由于FPC柔性線路板及電子系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)彎曲、折疊、延展，且功能不會(huì)因此而受到影響，其獨(dú)特的柔性和延展性使得柔性電子在信息、面議2026-02-25 -
數(shù)字源表測(cè)LDO芯片電性能
LDO，全稱(chēng)為“Low Dropout Regulator”，是一種低壓差線性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區(qū)域內(nèi)運(yùn)行的晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管（FET），從應(yīng)用的輸入電壓中減去超額的電壓，產(chǎn)生經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)的輸出電壓。相比于傳統(tǒng)的DC-DC變換器，LDO具有成本低，噪音低，靜態(tài)電流小的特點(diǎn)，需面議2026-02-25
面議
2026-02-25
高電流脈沖電源測(cè)試電流傳感器響應(yīng)時(shí)間
高電流脈沖電源測(cè)試電流傳感器響應(yīng)時(shí)間認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
；高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測(cè)量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。
設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特
面議
2026-02-25
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀集多種測(cè)量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測(cè)量功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達(dá)3KV,電流可高達(dá)4KA。該系統(tǒng)可測(cè)量不同封裝類(lèi)型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級(jí)電阻，pA級(jí)電流精準(zhǔn)測(cè)量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量
面議
2026-02-25
替代2657高壓程控電源
E系列高壓程控電源
特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
10ms級(jí)的上升沿和下降沿；
單臺(tái)最大3000V的輸出；
同步電流測(cè)量；
替代2657高壓程控電源具有輸出及測(cè)量電壓高（3000V）、能輸出及測(cè)量微弱電流信號(hào)（1nA）的特點(diǎn)。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測(cè)量電壓0~3000V，輸出及測(cè)量電
面議
2026-02-25
3000V/4000A功率器件分析儀
普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
單臺(tái)Z大3000V輸出；
單臺(tái)Z大1000A輸出，可并聯(lián)后Z大4000A；
10us的超快電流上升沿；
同步測(cè)量；
國(guó)標(biāo)全指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試；詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀集多種測(cè)量和分
面議
2026-02-25
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可測(cè)項(xiàng)目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces
集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce sat
集電極電流Ic，集電極截止電流Ices
柵極漏電流Iges，柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
柵極電阻Rg
電容測(cè)量
I-V特性曲線掃描，C-
面議
2026-02-25
國(guó)產(chǎn)脈沖源表IV測(cè)試憶阻器
國(guó)產(chǎn)脈沖源表IV測(cè)試憶阻器認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)10A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工
面議
2026-02-25
板卡式功率半導(dǎo)體IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試機(jī)
普賽斯ATE-3146靜態(tài)測(cè)試機(jī)是一款專(zhuān)注于Si/SiC MOSFET、IGBT、GaN HEMT等功率芯片及器件的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)；采用PXIe通信架構(gòu)方案，支持板卡靈活擴(kuò)展與高精度電學(xué)特性分析；支持單卡1200V大電壓、單卡400A大電流輸出，且蕞大可擴(kuò)展至3500V、2000A；可與探針臺(tái)(Prober)、分選
面議
2026-02-25
半導(dǎo)體芯片器件參數(shù)分析儀ivcv曲線測(cè)試機(jī)
SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益 打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng)，具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試，旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體
面議
2026-02-25
30A+1us脈沖源
30A+1us脈沖源的簡(jiǎn)述:
作用:
主要應(yīng)用于VCSEL激光器、大功率LED的測(cè)試
功能：
實(shí)現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測(cè)試
特點(diǎn)：
（1）超窄脈沖大電流電流加電，能夠滿(mǎn)足VCSEL的晶圓和芯片的測(cè)試需要；
（2）支持脈沖光功率和器件脈沖電壓采樣功能。是LIV測(cè)試的系統(tǒng)解決方案；
（3
面議
2026-02-25
半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試設(shè)備激光器老化測(cè)試系統(tǒng)
普賽斯半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試設(shè)備激光器老化測(cè)試系統(tǒng)是專(zhuān)為解決千瓦級(jí)大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測(cè)試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問(wèn)題而創(chuàng)新開(kāi)發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測(cè)試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定
面議
2026-02-25
寬禁帶器件測(cè)試高電壓大電流源
GaN HEMT器件性能的評(píng)估，一般包含靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（I-V測(cè)試）、頻率特性（小信號(hào)S參數(shù)測(cè)試）、功率特性（Load-Pull測(cè)試）。靜態(tài)參數(shù)，也被稱(chēng)作直流參數(shù)，是用來(lái)評(píng)估半導(dǎo)體器件性能的基礎(chǔ)測(cè)試，也是器件使用的重要依據(jù)。以閾值電壓Vgs（th）為例，其值的大小對(duì)研發(fā)人員設(shè)計(jì)器
面議
2026-02-25
什么是SMU源表?SMU源表的功能和優(yōu)勢(shì)
SMU源表突出特點(diǎn)：使用一臺(tái)儀器進(jìn)行多種測(cè)量 ；
SMU源表功能：
①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛用于各類(lèi)精密器件的測(cè)量。
②四象限工作，可作為源或負(fù)載
SMU源表相對(duì)傳統(tǒng)電源、萬(wàn)用表的優(yōu)勢(shì)：
源表相對(duì)傳統(tǒng)電源的優(yōu)勢(shì)：傳統(tǒng)
面議
2026-02-25
漏電流 開(kāi)短路測(cè)試 電氣特性測(cè)試數(shù)字源表
數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負(fù)載，支持四象限功能，可提供恒流測(cè)壓及恒壓測(cè)流功能,可簡(jiǎn)化芯片電性能測(cè)試方案。
在生產(chǎn)和老化測(cè)試時(shí)，往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對(duì)多個(gè)DUT的測(cè)試，或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測(cè)試任務(wù)?；谄召愃笴
面議
2026-02-25
S型數(shù)字源表工作原理
數(shù)字源表作為電學(xué)測(cè)量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專(zhuān)業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測(cè)量，使用非常廣泛。
S型數(shù)字源表在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測(cè)試功能，令數(shù)字源
面議
2026-02-25
8000V半導(dǎo)體測(cè)試高壓程控電源
高電壓源測(cè)單元具有輸出及測(cè)量電壓高(8000V)、能輸出及測(cè)量微弱電流信號(hào)(1nA)的特點(diǎn)。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測(cè)量電壓0~8000V，輸出及測(cè)量電流0~40mA。支持恒壓恒流工作模式，同時(shí)支持豐富的I-V掃描模式。設(shè)備可應(yīng)用于IGBT擊穿電壓測(cè)試、IGBT老化電源、防雷二極管耐壓測(cè)
面議
2026-02-25
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