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【3D TEM法在芯片失效分析中的創(chuàng)新】 3D TEM法通過連續(xù)切片與圖像重構(gòu)，實現(xiàn)芯片缺陷的三維可視化。將DB-FIB與TEM結(jié)合，應(yīng)用于熱點、孔洞、裂紋等立體缺陷分析。案例中，我們通過該方法成功定位某一先進制程芯片的層間短路點，為客戶提供立體失效機制報告。【廣電計量SEM/TE

我司實驗室主要針對包裝運輸測試的第三方實驗室，出具測試報告獲得廣大國內(nèi)外客戶認可及肯定，我司是經(jīng)國際安全運輸協(xié)會（ISTA），中國合格評定會 （CNAS）及中國計量認證（CMA）認可的實驗室。可以實施測試的標(biāo)準(zhǔn)有ISTA1~7系列及ASTM、GB、ISO等標(biāo)準(zhǔn)，對于自定義測試要求我

認證流程一般包括以下步驟： 提交申請和產(chǎn)品資料：向中啟檢測提交UL 60601認證申請，并提供產(chǎn)品相關(guān)資料。 制定測試計劃：根據(jù)產(chǎn)品特點和要求，中啟檢測會制定適當(dāng)?shù)臏y試方案。 測試執(zhí)行：中啟檢測將使用符合UL標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備對產(chǎn)品進行各項安全性能測試。 報告編制與審核：完