X-RIS DeReO WA-F DR面板

X-RIS DeReO WA-F DR面板

一、適用前景
·航空，航天，電力，石化工業(yè)等的管通和平板的譚縫檢測
·Al，F(xiàn)e，Ti合金塑料等成來缺陷檢測:夾雜，氣孔...
·負(fù)荷材科缺陷檢測：褶皺，夾雜...
·金屬鑄件，橡膠和塑料工件的缺陷檢測：空隙，裂縫，夾雜...
·交物檢測和科學(xué)實驗(博物值，實驗室，綜合大學(xué))
二、主要特點(diǎn)
①數(shù)字化成像
·數(shù)字玉像實時顯示在電腦屏幕上，易于保存和讀取
·高度智能化的Maestro NDT致件內(nèi)面友好，簡單易用，優(yōu)異的圖像優(yōu)化顯示功能
·TIFF&PG格式圖像，自動保存原始底片，自動生成拍片報告
②股片->數(shù)字化成像
·不再需要耗材(服片，化學(xué)試用)和日室，工作效平和經(jīng)濟(jì)效益提升明顯
·DeReO WA-F是替代傳統(tǒng)x射線膠片拍攝方法量佳的工具
③實時
·X射線實時完美的成像，圖像可以快速的優(yōu)化處理
·確定合適的kV和mA等拍攝參數(shù)變得簡單直接
·圖像采集快速 (1幀/秒)，圖像成像時間不超過20秒
④快速布置
·硬件和軟件能快速的設(shè)置和布置
·200pm分用率(符合ISO 17636-2)
⑤優(yōu)異的圍像質(zhì)
-ClassA: 穿透厚度4至12mmFo
-ClassB: 穿選厚度大于12 mmFe
·優(yōu)異的信確比(SNA)，對比度分辨率優(yōu)于1% (EN462-1）
·14or16bit
·可以選擇不同厚度的閃爍體，靈敏度可調(diào)
·自動快速的平均降噪
⑥kV范圍大適用前景廣
·承受的kV值沒有上限(須選配適宜的船板防護(hù))，透射能力強(qiáng)大
·輕質(zhì)復(fù)合材料和厚重工件都適合檢測，適用性廣
⑦成像面積
·成像面積大，可以檢較大工件件或一次檢測多個工件
⑧靈活性
·不需要和射線機(jī)同步就可以采集X射線圖像，可以和任何種類的恒電壓射線機(jī)配套工作
·可以配合伽馬，銫等射線源一起工作
⑨堅固的防護(hù)盒
·為了有效的防護(hù)平板探油器免于傷和磕碰X-RIS為DeReO WA-F設(shè)計了堅固的防護(hù)箱，其中包含電源模塊，耐用的連接模塊和鉛防護(hù)，確保平板探測器的電子元器件免于X射線輻制損害和物理損傷
三、DeReO WA-F平板探測器
成像面積：40x40cm??
鉛板防護(hù)：3mm鉛防，200kV射線機(jī)
6mm鉛防，250KV射線機(jī)
9mm組防，320kV射線機(jī)
12mm鉛防，450kV射線機(jī)或gamma源實時成像
像索尺寸：200μm??
灰度級：14bil(可選16bit）
2級同敏度可調(diào)節(jié)
實時成像/秒(可選4幀/秒)
整合交流電源
Gadox閃爍體
外型尺寸L820xH9Ox550mm
無kV限制(KV＞160kV時需要增加鉛防護(hù))
重量：取決于防護(hù)的厚度
四、MA STRO NDT軟件
·功能高度智能化，簡單易用
·實時X射線成像
·實時調(diào)節(jié)Gemx的kV，mA和曝光時間等參數(shù)
·圖像移動，放大，縮小，旋轉(zhuǎn)，水平和重直翻轉(zhuǎn)、鏡像，圖像剪裁...
·圖像直方圓LUT(look-up-table)
·射線圖像正片和負(fù)片轉(zhuǎn)換
·實時灰度調(diào)節(jié)濾鏡
·實時邊緣增強(qiáng)
·圖像3D浮雕顯示
·自動保存原始圖像和處理的圖像數(shù)據(jù)，可以隨時恢復(fù)到原始圖像
·NDT無損檢測專用圖像處理工幾(降噪.頻率過濾器)
·測量工具/灰展曲線圖
·像素圖
·圖像文件可添加各種標(biāo)準(zhǔn)和注釋
·可以自己布置軟件界面和快捷按鈕
·原始圖像和經(jīng)過處理的圖像都會被保存
·X-RIS可以按用戶要求定制開發(fā)軟件工具(例如開發(fā)Maesto模塊來控制自己的射線機(jī)...)
·可保存拍攝參數(shù)，使重復(fù)性的檢測變得高效和輕松
·工作界面可選擇多種語言，包括中文
·符合NDT標(biāo)準(zhǔn)(1S017636, ASTM E2736，E2737，E2597)
·滿足Nadcap認(rèn)證要求
五、DeRe0 WA-F可選附件
·GXC固定式射線機(jī):160 to 320kV
·任何其他恒電壓X射線機(jī)或Gamma源
·快速開關(guān)的小型鉛房