日本NFC EMC掃描儀
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劉慧杰
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日本NFC EMC掃描儀
電磁兼容（EMC）興起于20世紀(jì)80年代，它的原則是對(duì)產(chǎn)生的干擾水平、抗干擾水平和抑制措施做出明確的規(guī)定，使處于同一電磁環(huán)境的設(shè)備都是兼容的，同時(shí)又不向該環(huán)境中的任何實(shí)體引入不能允許的電磁擾動(dòng)。隨著科技的發(fā)展和用戶需求的變化，世界范圍內(nèi)電子產(chǎn)品正在以無線、便攜、多功能與專業(yè)化得趨勢(shì)快速發(fā)展，純粹的模擬電子系統(tǒng)越來越難以進(jìn)入人們的視線，取而代之的集成電路在數(shù)字電子產(chǎn)品與電子系統(tǒng)中扮演了“超級(jí)明星”的角色。但是，這種電子的快速發(fā)展也造成了電子系統(tǒng)電磁兼容性問題的日益突出，更高的集成度和使用密度，使片內(nèi)和片外耦合的發(fā)生幾率大大提高。在電子產(chǎn)品和電子系統(tǒng)中，通常集成電路是根本的騷擾信號(hào)源，它把直流供電轉(zhuǎn)換成高頻的電流、電壓，造成了無意發(fā)射和耦合。而當(dāng)其輸入或供電受到干擾時(shí)，誤動(dòng)作的可能性將大大增加，甚至造成硬件損壞。這種情況下，如何衡量集成電路電磁兼容性的問題日漸凸顯起來。這種衡量方法，或者稱作新的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法，將作用于集成電路的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制、采購乃至應(yīng)用調(diào)試等諸多方面，成為整個(gè)集成電路相關(guān)產(chǎn)業(yè)的關(guān)注焦點(diǎn)。
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