武昌儀器/儀表信息
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半導(dǎo)體IV特性曲線分析儀
半導(dǎo)體IV特性曲線分析儀認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯五合一高精度數(shù)字源表(SMU)可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設(shè)計工程師提供測量所需的工具,接線簡單、方便操作。 利用數(shù)字源表簡化半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)測試面議2026-01-15 -
低壓型數(shù)字源表
數(shù)字源表現(xiàn)廣泛用于半導(dǎo)體器件特性測試中,省錢省地,節(jié)約測試臺空間,同時實現(xiàn)了大動態(tài)測試范圍,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體,普賽斯源表相對于進口源表,測試范圍更廣,價格更便宜!最大輸出電壓達(dá)300V,最小測試電流達(dá)100pA,支持四象限工作;SXXB系列面議2026-01-15 -
壓力傳感器測試儀
通常,壓力傳感器Ⅳ特性測試需要幾臺儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析,過程既復(fù)雜又耗時,還占用過多測試臺的空間。而且,使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的面議2026-01-15 -
半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀
半導(dǎo)體器件測試儀IV曲線儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,詳詢18140663476;普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案? S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢: 1、多功能面議2026-01-15 -
光電二極管性能測試精密源表
光電探測器光電測試 光電探測器一般需要先對晶圓進行測試,封裝后再對器件進行二次測試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測器在工作時,需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對,從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作;測試時比較關(guān)面議2026-01-15 -
半導(dǎo)體特性測試儀IV曲線掃描儀
半導(dǎo)體特性測試儀IV曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用面議2026-01-15 -
憶阻器IV測試脈沖恒壓源CP系列
CP系列脈沖恒壓源是武漢普賽斯儀表推出的窄脈寬、高精度、寬量程插卡式脈沖恒壓源。設(shè)備支持窄脈沖電壓輸出,并同步完成輸出電壓及電流測量;支持多設(shè)備觸發(fā)實現(xiàn)器件的脈沖IV掃描等;支持輸出脈沖時序(如延遲、脈寬、周期等參數(shù)變量等)調(diào)節(jié),可輸出復(fù)雜曲線。主要特點有:面議2025-02-27
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100pA-1A微電流數(shù)字源表
100pA-1A微電流數(shù)字源表特點: 同時精確提供和測量電壓和/或電流; 同步測量,減少測試時間 提供和測量非常廣的電流和電壓; 電壓可達(dá)300mV-300V,電流達(dá)100nA-1A 支持運行用戶腳本程序,無需電腦控制,提高生產(chǎn)測試速度; 序列測試,簡武昌面議2026-01-15 -
替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型
替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型認(rèn)準(zhǔn)武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六,普賽斯S型數(shù)字源表使用直觀的觸摸屏控制和圖標(biāo)化操作界面,令新用戶通過簡單操作快速獲取測試結(jié)果,大大縮減學(xué)習(xí)儀器操作的時間,顯著提高工作效率,同時將更多時間用于科研領(lǐng)域的武昌面議2026-01-15 -
什么是SMU源表?SMU源表的功能和優(yōu)勢
SMU源表突出特點:使用一臺儀器進行多種測量 ; SMU源表功能: ①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身,廣泛用于各類精密器件的測量。 ②四象限工作,可作為源或負(fù)載 SMU源表相對傳統(tǒng)電源、萬用表的優(yōu)勢: 源表相對傳統(tǒng)電源的優(yōu)勢:傳統(tǒng)武昌面議2026-01-15 -
脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表
脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,原廠直銷、服務(wù)完善!P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達(dá)10A,Z大輸出電壓達(dá)300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用武昌面議2026-01-15 -
1000A高電流脈沖電源
1000A高電流脈沖電源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(10uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。 設(shè)備可應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合,使用該設(shè)備可以獨立完成“武昌面議2026-01-15 -
光伏組件PID測試用源表
光伏組件PID測試所需主要儀器為: 步入式環(huán)境測試箱; 絕緣耐壓測試儀; 接地連續(xù)性測試儀; PID測試直流電壓源(數(shù)字源表); HALM太陽模擬器(AAA+級); EL測試儀等。 測試所需電源需求 電源電壓:-1500V~0V/ 0~+1500V 電源時漂:≤0.3%/h武昌面議2026-01-15 -
LDO電性能測試用數(shù)字源表
LDO常用的電性能參數(shù)測試,主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù),因此一般情況下,測試系統(tǒng)至少需要配置2臺SMU,并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。 普賽斯S系列高精度數(shù)字源表,武昌面議2026-01-15 -
半導(dǎo)體材料IV性能分析儀表
半導(dǎo)體材料IV性能分析儀表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),廠家直銷!性價比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達(dá)300V,支持USB存儲,一鍵導(dǎo)出報告,符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求,可及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比武昌面議2026-01-15 -
半導(dǎo)體芯片IV性能測試儀表
半導(dǎo)體芯片IV性能測試儀表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯儀表S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),單通道,不支持脈沖輸出,觸摸屏操作,支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng);最大輸出電壓達(dá)300V,最小測試電流達(dá)100pA,支持USB存儲,一鍵導(dǎo)出武昌面議2026-01-15 -
射頻器件頻率特性測試SMU源表
GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。 頻率特性測試 射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(diào)(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同武昌面議2026-01-15 -
脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源
脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六 liv脈沖電流源的簡述: 作用: 主要應(yīng)用于激光雷達(dá)的激光器測試 功能: 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點: (1)超窄脈沖大電流電流加電,能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的武昌面議2026-01-15 -
多通道源表之miniled芯片LIV測試
源表有一個簡單的定義,就是五表合一(電流源、電壓源、電流表、電壓表、電子負(fù)載),也就是源輸出+測量一體化,不同品牌及不同型號的源表都符合這個要求,只是差別在于輸出范圍、測量精度、速度、通道數(shù)不同。 對于早期應(yīng)用最為廣泛的2400源表,國內(nèi)早已推出對標(biāo)產(chǎn)武昌面議2026-01-15 -
高精度源表測試LED電性能
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試,可以獲得對應(yīng)正向電壓(Vf)、反向電壓(Vr)及漏電流(Ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端,加電壓測試電流,或者加電流測試電壓武昌面議2026-01-15
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