全西安儀器/儀表信息
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半導體電學參數(shù)測試設備iv+cv曲線掃描儀
半導體電學參數(shù)測試設備iv+cv曲線掃描儀特點: 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力; 測量精度高,全量程下可達0.03%精度; 內(nèi)置標準器件測試程序,直接調用測試簡便; 自動實時參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù); 在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布面議2026-01-15 -
半導體器件功率分析儀
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2026-01-15 -
功率器件分析儀igbt模塊測試機
功率器件分析儀igbt模塊測試機特點 高電壓:支持高達3.5KV高電壓測試(Z大擴展至10kV); 大電流:支持高達6KA大電流測試(多模塊并聯(lián)); 高精度:支持uΩ級導通電阻、nA級漏電流測試; 豐富模板:內(nèi)置豐富的測試模板,方便用戶快速配置測試參數(shù); 配置導出:支持一鍵面議2026-01-15 -
新疆樂康儀器仰臥起坐測試儀
主機《標配》內(nèi)置成像式二維碼和條形碼掃碼器(可快速錄入測試者信息);主機可選配內(nèi)置非接觸式IC卡、ID卡功能;主機《標配》支持USB接口掃碼槍快速錄入測試者信息功能;數(shù)據(jù)組網(wǎng)通過全無線方式,可以實時或者集中批量傳輸,采用2.4G通信(遠距離大規(guī)模組網(wǎng))。大功率高頻120002025-07-07
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半導體芯片器件參數(shù)分析儀ivcv曲線測試機
SPA6100半導體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益 打造的一款半導體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導體西安面議2026-01-22 -
100pA-1A微電流數(shù)字源表
100pA-1A微電流數(shù)字源表特點: 同時精確提供和測量電壓和/或電流; 同步測量,減少測試時間 提供和測量非常廣的電流和電壓; 電壓可達300mV-300V,電流達100nA-1A 支持運行用戶腳本程序,無需電腦控制,提高生產(chǎn)測試速度; 序列測試,簡西安面議2026-01-15 -
替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型
替代2400/2450國產(chǎn)數(shù)字源表S300型認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六,普賽斯S型數(shù)字源表使用直觀的觸摸屏控制和圖標化操作界面,令新用戶通過簡單操作快速獲取測試結果,大大縮減學習儀器操作的時間,顯著提高工作效率,同時將更多時間用于科研領域的西安面議2026-01-15 -
什么是SMU源表?SMU源表的功能和優(yōu)勢
SMU源表突出特點:使用一臺儀器進行多種測量 ; SMU源表功能: ①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身,廣泛用于各類精密器件的測量。 ②四象限工作,可作為源或負載 SMU源表相對傳統(tǒng)電源、萬用表的優(yōu)勢: 源表相對傳統(tǒng)電源的優(yōu)勢:傳統(tǒng)西安面議2026-01-15 -
脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表
脈沖電流10A國產(chǎn)數(shù)字源表認準普賽斯儀表,原廠直銷、服務完善!P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應用西安面議2026-01-15 -
1000A高電流脈沖電源
1000A高電流脈沖電源為脈沖恒流源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(10uS)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)、支持輸出極性切換等特點。 設備可應用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測試場合,使用該設備可以獨立完成“西安面議2026-01-15 -
光伏組件PID測試用源表
光伏組件PID測試所需主要儀器為: 步入式環(huán)境測試箱; 絕緣耐壓測試儀; 接地連續(xù)性測試儀; PID測試直流電壓源(數(shù)字源表); HALM太陽模擬器(AAA+級); EL測試儀等。 測試所需電源需求 電源電壓:-1500V~0V/ 0~+1500V 電源時漂:≤0.3%/h西安面議2026-01-15 -
LDO電性能測試用數(shù)字源表
LDO常用的電性能參數(shù)測試,主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線性調整率、負載調整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù),因此一般情況下,測試系統(tǒng)至少需要配置2臺SMU,并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。 普賽斯S系列高精度數(shù)字源表,西安面議2026-01-15 -
半導體材料IV性能分析儀表
半導體材料IV性能分析儀表認準生產(chǎn)廠家普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),廠家直銷!性價比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達300V,支持USB存儲,一鍵導出報告,符合大環(huán)境下國內(nèi)技術自給的需求,可及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比西安面議2026-01-15 -
半導體芯片IV性能測試儀表
半導體芯片IV性能測試儀表認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;普賽斯儀表S型數(shù)字源表國產(chǎn)自主研發(fā),單通道,不支持脈沖輸出,觸摸屏操作,支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng);最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,支持USB存儲,一鍵導出西安面議2026-01-15 -
射頻器件頻率特性測試SMU源表
GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。 頻率特性測試 射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同西安面議2026-01-15 -
脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源
脈沖電流源LIV測試光纖激光器泵浦源認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六 liv脈沖電流源的簡述: 作用: 主要應用于激光雷達的激光器測試 功能: 實現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測試 特點: (1)超窄脈沖大電流電流加電,能夠滿足VCSEL的晶圓和芯片的西安面議2026-01-15 -
多通道源表之miniled芯片LIV測試
源表有一個簡單的定義,就是五表合一(電流源、電壓源、電流表、電壓表、電子負載),也就是源輸出+測量一體化,不同品牌及不同型號的源表都符合這個要求,只是差別在于輸出范圍、測量精度、速度、通道數(shù)不同。 對于早期應用最為廣泛的2400源表,國內(nèi)早已推出對標產(chǎn)西安面議2026-01-15 -
高精度源表測試LED電性能
LED必須在合適的電流電壓驅動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試,可以獲得對應正向電壓(Vf)、反向電壓(Vr)及漏電流(Ir)等參數(shù),以及相應的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端,加電壓測試電流,或者加電流測試電壓西安面議2026-01-15 -
國產(chǎn)脈沖源表IV測試憶阻器
國產(chǎn)脈沖源表IV測試憶阻器認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工西安面議2026-01-15 -
國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀
國產(chǎn)半導體參數(shù)分析儀可測項目 集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces 集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce sat 集電極電流Ic,集電極截止電流Ices 柵極漏電流Iges,柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 柵極電阻Rg 電容測量 I-V特性曲線掃描,C-西安面議2026-01-15
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