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金剛石沉積設(shè)備生長(zhǎng)的金剛石表征

發(fā)布時(shí)間:2023-08-17 05:00:08 來(lái)源:互聯(lián)網(wǎng) 分類(lèi):工業(yè)機(jī)械知識(shí)

文章摘要: 金剛石沉積設(shè)備生長(zhǎng)的金剛石表征沉積設(shè)備生長(zhǎng)出來(lái)的金剛石樣品需要先做拉曼光譜,這是非常主要也是非常關(guān)鍵的一種表征方法,簡(jiǎn)單判斷外延單晶樣品是否為金剛石以及是否含有 SP2雜化形態(tài)的碳。如果通過(guò)拉曼光譜確定為金剛石單晶,可以進(jìn)行金剛石晶體質(zhì)量的進(jìn)一

金剛石沉積設(shè)備生長(zhǎng)的金剛石表征

沉積設(shè)備生長(zhǎng)出來(lái)的金剛石樣品需要先做拉曼光譜,這是非常主要也是非常關(guān)鍵的一種表征方法,簡(jiǎn)單判斷外延單晶樣品是否為金剛石以及是否含有 SP2雜化形態(tài)的碳。如果通過(guò)拉曼光譜確定為金剛石單晶,可以進(jìn)行金剛石晶體質(zhì)量的進(jìn)一步表征,用X射線搖擺曲線去表征金剛石單晶的晶體質(zhì)量,光致發(fā)光譜、紅外吸收光譜、紫外吸收光譜可以用來(lái)表征單晶金剛石的光學(xué)性質(zhì)的好壞,也可以簡(jiǎn)單判定晶體內(nèi)所含有的缺點(diǎn)。光學(xué)顯微鏡是用來(lái)判定單晶生長(zhǎng)面形貌情況的。?

金剛石沉積設(shè)備

光學(xué)顯微鏡

光學(xué)顯微鏡(Optical Microscop,OM)是表征金剛石常用同時(shí)也是簡(jiǎn)單的方法。挑選適當(dāng)?shù)谋堵视^察金剛石的生長(zhǎng)面,如果倍率太大樣品本身不平顯微鏡景深不夠從而造成照片模糊,倍率太小則不可觀察到金剛石外延的臺(tái)階。

掃描電子顯微鏡

為了進(jìn)一步觀察到金剛石樣品表層的微觀形貌,需要使用掃描電子顯微鏡對(duì)金剛石樣品進(jìn)行金相觀察。掃面電鏡可以觀察到金剛石亞微米級(jí)別尺度的表層形態(tài),并且具有一定的景深和較高的分辨率。

拉曼光譜

拉曼光譜(Raman Spectroscopy)可以用以表征外延金剛石的質(zhì)量。拉曼光普對(duì)碳鍵的狀態(tài)非常敏感,根據(jù)樣品的聲子譜等粒子激發(fā)對(duì)激光所產(chǎn)生的拉曼位移來(lái)判斷外延單晶的晶體質(zhì)量。金剛石中的碳以SP3形式雜化,SP3雜化的碳鍵對(duì)應(yīng)的一階拉曼峰在1332 cm-1的位置,而晶態(tài)的石墨對(duì)應(yīng)1580 cm-1處。另外,非晶態(tài)SP2雜化的碳在一階拉曼譜1350-1600 cm-1之間顯示為散射寬帶,具體的位置由非金剛石相的含量而定。

拉曼光譜除了可以進(jìn)行金剛石的物相分析之外,還可以對(duì)金剛石的晶體質(zhì)量進(jìn)行等性分析,金剛石拉曼光譜的半峰寬(FWHM)與金剛石本身的晶體質(zhì)量有關(guān),如果金剛石的晶體缺點(diǎn)越多、晶體點(diǎn)陣排列越紊亂,則其半峰寬值越大。天然金剛石的拉曼光譜半峰寬為2 cm-1,CVD金剛石的半峰寬可以達(dá)到2.3 cm-1,金剛石薄膜的半峰寬的變化范圍在5—25 cm-1之間。除此之外,金剛石的拉曼光譜特征峰的偏移量還可以反映晶體內(nèi)應(yīng)力情況。

光致發(fā)光光譜

光致發(fā)光光譜(Photoluminescence,PL)是一種無(wú)損探測(cè)材料電子結(jié)構(gòu)方式?;驹硎遣牧衔展庾樱娮榆S遷到較高的能態(tài)后恢復(fù)到低能態(tài)并放出光子。光致發(fā)光光譜可以用來(lái)研究金剛石晶體中缺點(diǎn)的類(lèi)型,N原子與空位復(fù)合所產(chǎn)生的晶體缺點(diǎn)在光致發(fā)光譜中有明顯的特征峰(575 ( NV0 ),637 ( NV?) nm),N摻雜的金剛石有很明顯的熒光背底。


金剛石沉積設(shè)備生長(zhǎng)的金剛石表征

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