絕緣電阻、極化指數(shù)、吸收比、介質(zhì)放電率都是啥？

絕緣測(cè)試中，絕緣電阻雖為基礎(chǔ)指標(biāo)，但其靈敏度受限，無(wú)法全面反映設(shè)備絕緣狀況。結(jié)合吸收比、極化指數(shù)及介質(zhì)放電率等多參數(shù)綜合評(píng)估，方能有效監(jiān)測(cè)絕緣缺點(diǎn)，確保電氣設(shè)備安全可靠。

測(cè)量電氣設(shè)備的絕緣電阻和吸收比及極化指數(shù)，是檢驗(yàn)設(shè)備絕緣狀況最簡(jiǎn)便的方法，在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行設(shè)備絕緣試驗(yàn)項(xiàng)目時(shí)，測(cè)量絕緣電阻是絕緣試驗(yàn)的第一個(gè)項(xiàng)目，檢驗(yàn)設(shè)備是否有嚴(yán)重缺點(diǎn)。

為什么絕緣測(cè)試中不可只測(cè)量絕緣電阻?

因?yàn)橹挥挟?dāng)絕緣缺點(diǎn)貫通于兩極之間時(shí)，絕緣電阻測(cè)量才比較靈敏。

若絕緣只存在局部缺點(diǎn)，而兩極間仍保持有部分良好絕緣,絕緣電阻很少下降或沒(méi)有變化,測(cè)量絕緣電阻試驗(yàn)便不可發(fā)現(xiàn)此類缺點(diǎn)。

此時(shí)就需要通過(guò)其他參數(shù)發(fā)現(xiàn)絕緣缺點(diǎn)，例如吸收比，極化指數(shù)和介質(zhì)放電率。同時(shí)測(cè)量這些參數(shù)，可有效監(jiān)測(cè)出絕緣是否有貫通或集中性缺點(diǎn)，整體受潮或貫通性受潮等。

1.絕緣電阻

功能：大概評(píng)估設(shè)備絕緣情況好壞

定義：在設(shè)備絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該電極的泄漏電流值之比。若無(wú)特殊說(shuō)明，均值加壓1min的測(cè)試值。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

對(duì)于輸變電設(shè)備，要求絕緣電阻>10000Ω

——《輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修試驗(yàn)規(guī)程Q/GDW168-2008》

對(duì)于電氣裝置，要求絕緣電阻值不低于產(chǎn)品出廠試驗(yàn)值的70%

——《電氣裝置安裝工程電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB50150-2006》

2.吸收比

功能：發(fā)現(xiàn)隱藏絕緣缺點(diǎn)，如測(cè)量絕緣不良、整體受潮、絕緣油嚴(yán)重劣化、外部絕緣部分臟污或測(cè)量線斷線，絕緣老化等

定義：在同一次絕緣電阻試驗(yàn)中，1min時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

對(duì)于輸變電設(shè)備，要求吸收比不小于1.3

——《輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修試驗(yàn)規(guī)程Q/GDW168-2008》

對(duì)于電氣裝置，要求吸收比與產(chǎn)品出廠值相比應(yīng)無(wú)明顯差別，在常溫下應(yīng)不小于 1.3;當(dāng)R60s大于3000MΩ時(shí)，吸收比可不做考核要求。

——《電氣裝置安裝工程電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB50150-2006》

3.極化指數(shù)

功能：發(fā)現(xiàn)隱藏絕緣缺點(diǎn)，如測(cè)量絕緣不良、整體受潮、絕緣油嚴(yán)重劣化、外部絕緣部分臟污或測(cè)量線斷線，絕緣老化等

定義：在同一次絕緣電阻試驗(yàn)中，10min中時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比值。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

對(duì)于輸變電設(shè)備，要求極化指數(shù)不小于1.5

——《輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修試驗(yàn)規(guī)程Q/GDW168-2008》

對(duì)于電氣裝置，要求測(cè)得值與產(chǎn)品出廠值相比應(yīng)無(wú)明顯差別，在常溫下不小于1.3;當(dāng)R60s大于10000MΩ時(shí)，極化指數(shù)可不做考核要求。

——《電氣裝置安裝工程電氣設(shè)備交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB50150-2006》

4.介質(zhì)放電率

功能：通過(guò)測(cè)量絕緣體的放電電流，發(fā)現(xiàn)多層絕緣中的某一層絕緣缺點(diǎn)

定義：在絕緣測(cè)試停止加壓后，測(cè)量一分鐘內(nèi)的介質(zhì)釋放的電流。它的大小取決于測(cè)試回路中的電容和絕緣測(cè)試的終止電壓。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：絕緣層均質(zhì)的絕緣體的介質(zhì)放電率將接近于零，而可接受的多層次絕緣體的最大介質(zhì)放電率不高于2。

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